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課題1.1.4 のつづき

(2) 走査型トンネル顕微鏡(scanning tunneling microscope STM) は試料の上を細い針のような電極で撫でながら，試料と電極の間のきわめて狭い空間をトンネル効果で流れる電流の変化を観測して，試料表面の微細構造を知ろうとする道具である．この系は無限に広い接地された2 次元平面とそれに触れんばかりにおかれた垂直な細い円筒(平面に垂直とする) としてモデル化できる．この棒が1V の電位に保たれているとする．棒と平面の間の狭い区間の電位はどれくらいだろうか．

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課題1.1.4 のつづき

(2) 走査型トンネル顕微鏡(scanning tunneling microscope STM) は試料の上を細い針のような電極で撫でながら，試料と電極の間のきわめて狭い空間をトンネル効果で流れる電流の変化を観測して，試料表面の微細構造を知ろうとする道具である．この系は無限に広い接地された2 次元平面とそれに触れんばかりにおかれた垂直な細い円筒(平面に垂直とする) としてモデル化できる．この棒が1V の電位に保たれているとする．棒と平面の間の狭い区間の電位はどれくらいだろうか．